AI显微镜标准功能:检测模型训练、推理检测、NG缺陷分类标注亦可根据个性化需求,定制优化,迭代算法模型;
应用于微组装半导体、电子组件PCB检测、医疗器械、精密工程等领域集产品检查、分析及维修一体式工作站,操作人员可以在舒适的状态下
AI显微镜标准功能:检测模型训练、推理检测、NG缺陷分类标注亦可根据个性化需求,定制优化,迭代算法模型;
应用于微组装半导体、电子组件PCB检测、医疗器械、精密工程等领域集产品检查、分析及维修一体式工作站,操作人员可以在舒适的状态下
JL-GOOD2000 AI显微镜面向工业视觉场景打造的平台,提供分割、定位、推理、检测、分类、多目标识别、OCR等功能,用于产品复杂缺陷的识别检测。采用图形化界面设计,无需编程,即可完成集模型训练、调优、推理检测于一体的完整AI模型构建。基于深度学习图像技术的动态自学习、自适应、无监督缺陷检测算法具有数据成本低、灵活性高等优势,应用前景广阔,能够集成到多行业不同的产线设备中,支持秒级切换模型适配产线切换,满足不同应用场景的差异化检测需求,助力品质管控和良率提升。
智能自学习
正样本无监督,自主学习,支持添加负样本模型再训练,在线优化,越用越智能,检测越简便
检测更高效
深度学习算法,针对行业场景适配优化,可识别表面细微瑕疵缺陷,精度远高于目检
性价比更高
员工培训转变为算法模型训练有效避免员工培养的长周期、大投入,高流动性带来的高额成本
数字化
检测过程、结果自动实时记录,可追溯,不可篡改,支持与管理系统集成,有力支撑数字化转型
组织资产化
将员工的经验、能力沉淀为组织资产;缺陷分类统计分析可支撑质量审计,改善工艺
员工更健康
显微镜符合人体工学设计,4K高清输出,细节**,快速高效,可很大程度降低劳动强度,缓解视疲劳
自主学习
少量正样本照片初始训练业务中同步进行模型再训练和缺陷分类,自主在线学习,越用越智能
**支持
满足工业质检多样需求, 可灵活切换产线,提供多目标识别、分割、分类、检测、OCR等功能。
无需标注
客户完全无需标注繁杂的缺陷样本,不用定义缺陷边界。
应用灵活
应对各种复杂场景,环境容忍度高,模型无需持续调整;可根据业务需要灵活适配算法。
便捷操作
无需编程,无代码点选操作,无需算法基础,即开即用,快速上手。
一键部署
支持缺陷样本增加和再训练;算法模型经平台验证后可一键部署到交付现场。
我们的优势
无需采集大量缺陷样本数据,不必要定义缺陷样本类型,无需标注大量缺陷样本数据,自动迭代优化大量缺陷模型,自适应新型缺陷类型,自动化适配新产品线,周期短、风险小、成本低、易上手。
本地化部署
JL-GOOD2000 AI质检系统,现只需一套通用电脑即可实现本地化部署,无需强大的服务器就能够适用于进行 AI 训练和深度学习任务